Mikroskop pengukur penembusan kimpalan SC-2000C

Mikroskop pengesanan penembusan kimpalan 2000C dilengkapi dengan mikroskop definisi tinggi dan perisian pengukuran penembusan, yang boleh mengukur dan menyimpan imej mikroskopik penembusan yang dihasilkan oleh pelbagai sambungan kimpalan (sambungan punggung, sambungan sudut, sambungan riba, sambungan berbentuk T, dll.). Pada masa yang sama, pemeriksaan makro kimpalan juga boleh dilakukan, dan dua mikroskop disediakan untuk memeriksa kualiti kimpalan. Penembusan kimpalan merujuk kepada kedalaman lebur logam asas. Semasa kimpalan, mesti ada penembusan tertentu untuk menjadikan kedua-dua logam asas yang dikimpal kukuh dikimpal bersama. Penembusan yang tidak mencukupi boleh menyebabkan kimpalan yang tidak lengkap, kemasukan sanga, nodul kimpalan dan retakan sejuk serta masalah lain. Penembusan yang terlalu dalam boleh menyebabkan pembakaran, pemotongan bawah, liang dan fenomena lain dengan mudah, yang secara langsung menjejaskan kualiti kimpalan. Oleh itu, adalah sangat perlu untuk mengukur penembusan kimpalan. Dalam beberapa tahun kebelakangan ini, dengan perkembangan pesat teknologi moden seperti elektronik, bahan kimia, tenaga atom, automobil, pembinaan kapal dan aeroangkasa, pelbagai industri mempunyai keperluan yang semakin tinggi untuk kualiti kimpalan, dan pengesanan kualiti kimpalan adalah penting untuk penaiktarafan perindustrian industri pembuatan jentera. Penting. Penaiktarafan industri mikroskop penembusan akan berlaku tidak lama lagi. Sebagai tindak balas kepada situasi ini, kami telah membangunkan dan mereka bentuk mikroskop HB5276-1984 untuk kimpalan titik rintangan aloi aluminium yang mengukur penembusan kimpalan mengikut piawaian industri (HB5282-1984 kimpalan titik rintangan keluli struktur dan keluli tahan karat dan pemeriksaan kualiti kimpalan jahitan). dan pemeriksaan kualiti kimpalan jahitan) sistem pemeriksaan kualiti kimpalan 2000C. Sistem ini bukan sahaja boleh mengukur penembusan kimpalan (menggunakan kaedah pemusnahan) tetapi juga boleh memeriksa kualiti kimpalan, mengesan retakan, lubang, kimpalan yang tidak sekata, kemasukan sanga, liang dan dimensi yang berkaitan, dsb. Pemeriksaan makroskopik.